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XRF土壤重金属测量仪原理

    人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光(X—Ray  Fluorescence),而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光(XRF)仪器由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级X射线被称为X射线荧光。利用X射线荧光原理,理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用中,有效的元素测量范围为9号元素(F)到92号元素(U)。目前其主要应用包括土壤重金属分析,合金分析以及环境分析。 

    加拿大EDXpert™ 手持XRF土壤重金属测量仪是一款设计直观和用户友好型系统。EDXpert™ XRFXRF土壤重金属测量仪与竞争对手区分开的优势在于, 该分析仪单元已经校正供精确测量用, 直接从盒子中取出即可,无需频繁校准。该设计消除了不精准校准(人为错误)对测量结果造成影响。最佳质量和合理市场价格使得我们的EDXpert™手持XRF土壤重金属测量仪在市场上非常有吸引力,是优选设备。常规使用条件下,便携式EDXpert™ XRF土壤重金属测量仪可运行8小时,之后需要充电。EDXpert™ XRF土壤重金属测量仪运行采用高电压40kV(可设置达50kV), 检测元素范围Cl-U。轻量元素备选检测范围是Mg-U。EDXpert™XRF土壤重金属测量仪由Hewlett- Packard iPAQ PDA 控制,为系统提供了高灵活性和分析性。PDA有一个高分辨率的4英寸触摸屏,可随PDA技术进步而更新。合理价格,备选实验室台架可使 EDXpert™ XRF土壤重金属测量仪用作实验室XRF分析仪, 当与我们台式EDXpert™ 软件仪器使用时,立刻有效变为一款台式光谱仪。

    EDXpert™ 手持XRF土壤重金属测量仪,软件功能简单,易于操作,实时PDA触摸屏读数。用户回到实验室后,结果可轻松传输到电脑以便长久储存,分析和生成报告使用。手持型XRF分析仪包括软件包、备用电池、耐用携带箱以及质保等。这不仅仅是低成本备选; 该设备为高精度、高灵活性系统,为诸多的便携测量应用提供解决方案。该系统的主要应用领域是有害物分析,设备性能超出了RoHS和CPSIA法规的要求(检出限达到 (ppm)水准)。另外满足法规的是为"现场便携式XRF分析仪",土壤检测中,可提供土壤和沉积物现场RCRA金属以及非RCRA金属。

    EDXpert™ XRF是一款具备实验室分析精度的现场便携式X射线荧光光谱仪,能够快速从土壤和沉积物中同时检测出多达几十种元素的含量,其中包括所有的8种美国资源保护和回收法(RCRA)规定的金属元素(As, Se, Ba, Cd, Cr, Ag, Hg, Pb)。

    适合环境介质要求:土壤及相关类似松散(颗粒状)样品检测模式;该系列产品被各国的环保署(EPA)、加拿大、美国各州及各大城市的环保和健康部门、环境问题咨询公司以及著名的大学和研究机构所广泛采用。

XRF土壤重金属测量仪原理

    X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波,其特性通常用能量(单位:千电子伏特,keV)和波长(单位:nm)描述。

    X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行,内层电子(如K层)在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚,释放出的电子会导致该电子壳层出现相应当电子空位。这时处于高能量电子壳层的电子(如:L层)会跃迁到该低能量电子壳层来填补相应的电子空位。由于不同电子壳层之间存在着能量差距,这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来,不同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量特性。这一个过程就是我们所说的X射线荧光(XRF)。

XRF土壤重金属测量仪波长

    元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁,同时发射出具有一定特殊性波长的X射线,根据莫斯莱定律,荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关,其数学关系如下:

    λ=K(Z−s)−2

    式中K和S是常数。

XRF土壤重金属测量仪能量

    而根据量子理论,X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流,每个光具有的能量为:

    E=hν=h C/λ

    式中,E为X射线光子的能量,单位为keV;h为普朗克常数;ν为光波的频率;C为光速。

    因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。

XRF土壤重金属测量仪分类

    不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同,因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的,进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一元素的特征X射线强度跟这元素在样品中的含量有关,因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)

XRF土壤重金属测量仪特点

    分析速度高。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,2~5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。

    X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内,这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定 。

    非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变,也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量,结果重现性好。

    X射线荧光分析是一种物理分析方法,所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。

    分析精密度高。

    制样简单,固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。

    难于作绝对分析,故定量分析需要标样。

    对轻元素的灵敏度要低一些。

    容易受相互元素干扰和叠加峰影响。

XRF土壤重金属测量仪分析

    X射线用于元素分析,是一种新的分析技术,但在经过二十多年的探索以后,现在已完全成熟,已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。

    每个元素的特征X射线的强度除与激发源的能量和强度有关外,还与这种元素在样品中的含量有关。

    根据各元素的特征X射线的强度,也可以获得各元素的含量信息。这就是X射线荧光分析的基本原理。

    EDXpert™可以在瞬间辨别出土壤中重金属极低的百万分率含量,在开发或整修学校、社区中心、住宅、游乐场及运动场以前,这款分析仪是有助于保障环境安全的重要工具。如果要在以前是垃圾填埋场、工业场址、果园、饲养场、闲置的污染土地以及其它会发现高含量有毒金属的地区开发房地产,DELTA分析仪无疑是一件必不可少的工具。此外,在对建筑物及旧房屋进行翻修、重建、恢复及涂漆的过程中,EDXpert™可以迅速探测出土壤和尘埃、建筑物表面、含铅颜料中的铅(Pb)元素,从而有助于减少在分析工程是否符合环境管理规定的过程中所耗用的资金和时间。

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